金士頓KT2400動態BURN-IN測試器獲得美國專利

金士頓科技公司今日宣佈金士頓KT2400 動態Burn-in測試器獲得美國專利 (Number 6,910,162 B2)。這項專有測試平台是設計作為查出伺服器記憶體模組的早期故障 (Early-Life Failure，ELF)，這將成為更令人信服之品質保證。
原先設計作為伺服器記憶體模組的測試平台，金士頓KT2400動態Burn-in測試器是能夠用來測試多種不同的記憶體模組規格。
金士頓科技全球測試工程副總裁以及KT2400 測試器的發明者之一的Dr. Ramon Co 指出：「我們對於KT2400能夠得到美國專利感到十分欣喜。在設計KT2400初期，我們的使命為創造一個能夠讓記憶體模組經過最嚴格之電池電源測試的測試平台環境，模擬出一個最嚴峻的伺服器環境。最常發生的記憶體可靠性錯誤為早期故障 (Early-Life Failure，ELF)，而ELF被定義為發生在正常運作前三個月期間之錯誤。我們的目標是設計出一個能夠模擬ELF階段環境、並且能夠篩選出任何不可靠模組之測試平台。」